どのようにしてエラーを低減するんでしょうか。
中大、データの1000年記憶を目指してSSDのエラーを80%低減する技術を開発(マイナビニュース)
[2014/06/13]
中央大学(中大)は6月13日、データの長期保存を目指して、フラッシュメモリを記憶媒体とするSSDのエラーを80%低減する技術を開発したと発表した。
同成果は、同大 理工学部の竹内健教授によるもの。詳細は、6月10~12日(現地時間)にハワイにて開催される「2014 VLSI Technology シンポジウム」で発表される。
(後略)
同記事から引用します。
引用、ここから。
(前略)
引用、ここまで。今回の研究では、長期保存に向けて3ビット(8値)セルのうち、7個の状態に記憶する手法であるnLCセル方式を提案した。同技術により、メモリのエラーを80%低減し、100年、1000年といった長期の記憶に対して、大容量と高い信頼性を両立させる可能性を示した。実験では約1年の実測結果から、100年後、1000年後のメモリの不良率を予測したという。また、企業向けサーバのような、データを頻繁に書き換える応用製品に対しても、適応制御型の信号変調方法を提案し、メモリのエラーを50%削減することに成功したとしている。(後略)
方法としては、「データそのものを3ビット単位に分割してパリティを持たせて、個々の3ビットの中でエラー検出を出来る様にした」ということだと思われます。
データ量が増加することを除けば処理も簡単で早く出来そうですから良いのかもしれませんね。
どのように製品に応用されてくるのか、楽しみです。
それでは、今回はこのへんで。
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